斯派克手持式光譜儀是一種高度便攜的分析工具，它利用X射線熒光（XRF）技術對材料進行快速、無損的成分分析。這種技術基于樣品在受到X射線激發(fā)后，會發(fā)出特征X射線，這些射線的波長或能量與樣品中元素的種類和濃度相關。以下是斯派克手持式光譜儀技術原理的詳細解析：

1. 激發(fā)樣品

斯派克手持式光譜儀內置有X射線源，用于激發(fā)樣品。當X射線與樣品相互作用時，會使得樣品中的原子發(fā)生電離，電子從內層軌道躍遷到外層軌道，留下空位。這個過程稱為“激發(fā)”。

2. 光譜分離

樣品中的原子在激發(fā)后會返回到基態(tài)，同時釋放出特征X射線。這些X射線具有特定的能量，對應于不同元素的特征。斯派克手持式光譜儀通過內置的光學系統(tǒng)將這些X射線按能量或波長分離，形成光譜。

3. 信號檢測

分離后的光譜被高靈敏度的探測器捕捉。探測器將X射線轉換為電信號，這些信號與樣品中元素的含量成正比。

4. 數據處理

斯派克手持式光譜儀內置的軟件系統(tǒng)會分析這些電信號，通過與已知元素的特征X射線對比，確定樣品中各元素的種類和濃度。

5. 結果輸出